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簡要描述：雙電測四探針測試儀 四探針測試儀 型號：TC-RTS-5 采用了四探針雙電測組合（亦稱雙位組合）測量新技術,將范德堡測量方法推廣應用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計算機控制下進行兩次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響。
產(chǎn)品型號：TC-RTS-5廠商性質(zhì)：其他更新時間：2025-08-31訪 問 量：665產(chǎn)品分類
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| 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 加工定制 | 否 |
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雙電測四探針測試儀 四探針測試儀型號：TC-RTS-5
TC-RT 用了四探針雙電測組合（亦稱雙位組合）測量新技術,將范德堡測量方法推廣應用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計算機控制下進行兩次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響。因而每次測量不必知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。由于每次測量都是對幾何因素的影響進行動態(tài)的自動修正，因此顯著降低了幾何因素影響，從而提高了測量結(jié)果的準確度。所有這些，用目前大量使用的常規(guī)四探針測量方法所的儀器是無法實現(xiàn)的。
系統(tǒng)是一個運行在計算機上擁有友好測試界面的用戶程序，通過此測試程序輔助使用戶簡便地進行各項測試及獲得測試數(shù)據(jù)并對測試數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計分析。
測試程序控制四探針測試儀進行測量并采集測試數(shù)據(jù)，把采集到的數(shù)據(jù)在計算機中加以分析，然后把測試數(shù)據(jù)以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中，讓用戶對數(shù)據(jù)進行各種數(shù)據(jù)分析
技術參數(shù)：
測量范圍 電阻率：0.001～200Ω.cm（可擴展）；
方塊電阻：0.01～2000Ω/□（可擴展）；
電導率：0.005～1000 s/cm；
電阻：0.001～200Ω.cm；
可測晶片厚度 ≤3mm
雙電測四探針測試儀 四探針測試儀
可測晶片直徑 140mmX150mm（配S-2A型測試臺）；
200mmX200mm（配S-2B型測試臺）；
400mmX500mm（配S-2C型測試臺）；
恒流源 電流量程分為0.1mA、1mA、10mA、100mA四檔，各檔電流連續(xù)可調(diào)
數(shù)字電壓表 量程及表示形式：000.00～199.99mV；
分辨力：10μV；
輸入阻抗：>1000MΩ；
精度：±0.1% ；
顯示：四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示；性、量程自動顯示；
四探針探頭基本指標 間距：1±0.01mm；
針間緣電阻：≥1000MΩ；
機械游移率：≤0.3%；
探針：碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm；
探針壓力：5～16 牛頓（總力）；
四探針探頭應用參數(shù) （見探頭附帶的合格證）
模擬電阻測量相對誤差
（ 按JJG508-87進行） 0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字
整機測量Z大相對誤差（用硅標樣片：0.01-180Ω.cm測試）≤±4%
整機測量標準不確定度 ≤4%
計算機通訊接口 并口
標準使用環(huán)境 溫度：23±2℃；
相對濕度：≤65%；
無高頻干擾；
無強光直射
 | 產(chǎn)品名稱：數(shù)字式四探針測試儀 產(chǎn)品型號： SZT-I 停產(chǎn) |
數(shù)字式四探針測試儀型號：SZT-I
SZT-I型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理 的多用途綜合測量裝置。它可以測量片狀、快狀半導體材料徑向和軸向電阻率，測量片狀半導體材料的電阻率和擴散層的薄層電阻（方塊電阻），換上特制的四探針測試夾，還可以對金屬導體的低中值電阻進行測量。此外，探針經(jīng)過特殊加工后，還可以測量薄膜材料電阻率。廣泛于半導體材料、器件廠、高等院校化學物理系、科研單位，對半導體材料的電阻性能測試。
本儀器測試探頭采用寶石導向軸套和高耐磨碳化鎢探針，定位準確，游移率小，使用壽命長。
技術參數(shù)：
1． 測量范圍：
電阻率：10的-4次方~10的3 次方Ω-cm
方塊電阻：10的-3次方 ~10的4 次方Ω/□
電阻：10的-6次方 ~10的5 次方Ω
導電類型鑒別：電阻率范圍 10的-4 次方~10 的3次方Ω—cm
2． 可測半導體材料尺寸
直徑：φ15~100 mm
長度：≤400mm
3． 測量方法：
軸向、斷面均可
4． 顯示方式：31/2,數(shù)顯,性、過載自動顯示，小數(shù)點、單位自動顯示。
5． 恒流源：
（1） 電流輸出：直流電流0~100 mA連續(xù)可調(diào)。
（2） 量程：10、100μA、1、10、100mA
（3） 誤差：±0.5%讀數(shù)±2個字
6.四探針測試探頭
(1) 探針間距:1mm
(2) 材料:碳化鎢.探針機械游移率:±1.0%
7.電源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:＜35W
 | 產(chǎn)品名稱：橡膠硬度計 產(chǎn)品型號：XHS-A |
橡膠硬度計 型號：XHS-A
測量橡膠、塑膠材料硬度的試驗儀器。
執(zhí)行標準：GB/T531、JJG304、適合GB/T6031試驗方法的有關規(guī)定。
硬度計表頭可安裝在定負荷測定架上，在實驗室內(nèi)對橡膠、塑料材料標準試片測定其標準硬度，也可手持硬度計表頭在生產(chǎn)車間及承裝在設備上的橡塑材料進行測定其表面硬度。
主要技術參數(shù):
壓針行程：0-2.5mm
硬度顯示范圍：0-100度
試樣厚度：≥4mm（可兩層疊加）
三種硬度計的適應范圍：
1、XHS-A：常規(guī)硬度計，試驗準確區(qū)域值為20-85度
2、XHS-D：高值硬度計，試驗準確區(qū)域值為20-80度（當A型硬度在85度以上,應采用D型測量）
3、XHS-W：低值硬度計，試驗準確區(qū)域值為20-85度（當A型硬度在35度以下,應采用W型測量）
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